Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Výzkum > Elektronová mikroskopie
Talos™ F200i transmisní elektronový mikroskop
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Thermo Scientific™ Talos F200i TEM je 20-200 kV transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskop
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIB
Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB
Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
SPM LiteScope (NenoVision)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
Transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Analytický transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM s termoemisním zdrojem elektronů.
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy Gatan
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy Gatan
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOL
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.
Nic nebylo nalezeno / nothing found
SELECT p.* FROM papers as p, xauthors as x, xgroups as xg WHERE xg.id_author=x.id_author AND p.id=x.id_paper and xg.id_group=10 GROUP BY id, title ORDER BY p.year DESC limit 0,100
Elektronová mikroskopie
| Vedoucí | Ing. Ivo Kuběna, Ph.D. |
| [javascript protected email address] | |
| Telefon | +420 532 290 417 |
| Místnost | 316 |
| Nadřazená jednotka | Oddělení experimentálních studií a modelování struktury |
Skupina se stará o chod elektronových mikroskpů, rozvoj mikroskopických technik a jejich úspěšné aplikace pro řešení výzkumných cílů pracovníků ÚFM.
The EM group takes care of the operation and maintenance of electron microscopes, the development of microscopic techniques and their successful applications for solving the research tasks. The group covers top quality transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation by various techniques.
Secondary and backscattered electrons are used for basic imagining in scanning electron microscopes (SEM). Moreover, SEMs are equipped with various detectors. EDS or WDS detectors are used for chemical analysis and EBSD detector plays a key role in phase or texture analysis. Two focused ion columns (FIB) together with a gas injection system offer other possibilities. Ga ions can be used for imagining and deposition of thin layers or micromachining on the microscale. The FIB technique is, for example, frequently used for site-specific TEM specimen preparation.
Two TEMs with the atomic resolution are present at IPM. TEMs might be operated in standard TEM mode as well as in scanning mode (STEM). STEM using bright field and high angle angular dark field detector is an unreplaceable method in microstructural analysis. Both TEMs are equipped with EDS detectors for chemical analysis on a nanometric level. One TEM is equipped with a Lorentz lens and biprism for holography.
Members of the group are capable of specimen preparation and microstructure documentation and data processing and analysis via appropriate software. The members keep cooperating with companies producing microscopes on the development of advanced microscopic techniques and their modification for specific needs of the research taking place at IPM. The group belongs to an infrastructural part of the department of Experimental Studies and Modelling of Structure.
The EM group takes care of the operation and maintenance of electron microscopes, the development of microscopic techniques and their successful applications for solving the research tasks. The group covers top quality transmission electron microscopy (TEM) specimen preparation by various techniques.
Secondary and backscattered electrons are used for basic imagining in scanning electron microscopes (SEM). Moreover, SEMs are equipped with various detectors. EDS or WDS detectors are used for chemical analysis and EBSD detector plays a key role in phase or texture analysis. Two focused ion columns (FIB) together with a gas injection system offer other possibilities. Ga ions can be used for imagining and deposition of thin layers or micromachining on the microscale. The FIB technique is, for example, frequently used for site-specific TEM specimen preparation.
Two TEMs with the atomic resolution are present at IPM. TEMs might be operated in standard TEM mode as well as in scanning mode (STEM). STEM using bright field and high angle angular dark field detector is an unreplaceable method in microstructural analysis. Both TEMs are equipped with EDS detectors for chemical analysis on a nanometric level. One TEM is equipped with a Lorentz lens and biprism for holography.
Members of the group are capable of specimen preparation and microstructure documentation and data processing and analysis via appropriate software. The members keep cooperating with companies producing microscopes on the development of advanced microscopic techniques and their modification for specific needs of the research taking place at IPM. The group belongs to an infrastructural part of the department of Experimental Studies and Modelling of Structure.
Techničtí pracovníci
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Markéta Gálíková | +420 532 290 428 | [javascript protected email address] | |
| Ing. Dagmar Herzánová | +420 532 290 482 | 408 | [javascript protected email address] |
| Ing. Ivana Podstranská | +420 532 290 481 | 407 | [javascript protected email address] |
| Jan Procházka | +420 532 290 390 | [javascript protected email address] | |
| Ing. Peter Smatana | +420 532 290 432 | 323 | [javascript protected email address] |
| Číslo | Název | Řešitel |
|---|---|---|
| 13-28685P | Identifikace mechanismů únavového poškození u moderních ocelí vyvíjených pro fúzní a jaderné reaktory | Ing. Ivo Kuběna, Ph.D. |
Talos™ F200i transmisní elektronový mikroskopKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Thermo Scientific™ Talos F200i TEM je 20-200 kV transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskopKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIBKontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIBKontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
SPM LiteScope (NenoVision)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
Transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEMKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Analytický transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM s termoemisním zdrojem elektronů.
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy GatanKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy GatanKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOLKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.
Nic nebylo nalezeno / nothing found
SELECT p.* FROM papers as p, xauthors as x, xgroups as xg WHERE xg.id_author=x.id_author AND p.id=x.id_paper and xg.id_group=10 GROUP BY id, title ORDER BY p.year DESC limit 0,100
