Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Výzkum > Elektronová mikroskopie
Transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Vysokorozlišovací transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F s FEG zdrojem elektronů.
Transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Analytický transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM s termoemisním zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM
Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop s FEG.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB
Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
SPM LiteScope (NenoVision)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy Gatan
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy Gatan
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOL
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.
Nic nebylo nalezeno / nothing found
SELECT p.* FROM papers as p, xauthors as x, xgroups as xg WHERE xg.id_author=x.id_author AND p.id=x.id_paper and xg.id_group=10 GROUP BY id, title ORDER BY p.year DESC limit 0,100
Elektronová mikroskopie
| Vedoucí | Ing. Ivo Kuběna, Ph.D. |
| [javascript protected email address] | |
| Telefon | +420 532 290 417 |
| Místnost | 316 |
| Nadřazená jednotka | Oddělení experimentálních studií a modelování struktury |
Skupina se stará o chod elektronových mikroskpů, rozvoj mikroskopických technik a jejich úspěšné aplikace pro řešení výzkumných cílů pracovníků ÚFM.
Techničtí pracovníci
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Ing. Dagmar Herzánová | +420 532 290 482 | 408 | [javascript protected email address] |
| Ing. Ivana Podstranská | +420 532 290 481 | 407 | [javascript protected email address] |
| Ing. Peter Smatana | +420 532 290 432 | 323 | [javascript protected email address] |
Diplomanti
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Bc. Lucius Fridrich | +420 532 290 |
| Číslo | Název | Řešitel |
|---|---|---|
| 13-28685P | Identifikace mechanismů únavového poškození u moderních ocelí vyvíjených pro fúzní a jaderné reaktory | Ing. Ivo Kuběna, Ph.D. |
Transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100FKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Vysokorozlišovací transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F s FEG zdrojem elektronů.
Transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEMKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Analytický transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM s termoemisním zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMKontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop s FEG.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIBKontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
SPM LiteScope (NenoVision)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy GatanKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy GatanKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOLKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.
Nic nebylo nalezeno / nothing found
SELECT p.* FROM papers as p, xauthors as x, xgroups as xg WHERE xg.id_author=x.id_author AND p.id=x.id_paper and xg.id_group=10 GROUP BY id, title ORDER BY p.year DESC limit 0,100