Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam vybavení > Detail vybavení
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskop
| Kontaktní osoba | doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D. |
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem, který produkuje vysoce stabilní a jasný elektronový paprsek, nezbytný pro vysoké rozlišení v rastrovacím módu a při analýze vzorků v nanoměřítku. Mikroskop je vybaven detektorem EDS pro rentgenovou mikroanalýzu s analytickým systémem Aztec, detektory HAADF a BF pro STEM, 8Mpix kamerou od Gatan a softwarem Digital Micrograph. Pro analýzu vzorků lze použít držáky s náklony v jedné nebo ve dvou na sebe kolmých osách. Techniky: TEM, HRTEM, SAED, CBD, NBD, STEM, EDS
