Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam laboratoří > Detail laboratoře
Talos™ F200i transmisní elektronový mikroskop
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Thermo Scientific™ Talos F200i TEM je 20-200 kV transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskop
Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-646
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-6460 s wolframovým zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
Naprašovačka Quorum 150T
Kontakt: Ing. Peter Smatana
Systém Q150T je univerzální turbo naprašovačka pro přípravu vzorků pro pozorování v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIB
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
SPM LiteScope (NenoVision)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
TenuPol 5
Kontakt: Ing. Peter Smatana
TenuPol-5 je zařízení určené pro automatizované elektrolytické leštění a leptání metalografických vzorků pro pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu.
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy Gatan
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy Gatan
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOL
Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.
Elektronová mikroskopie
Virtuální prohlídka laboratořeVSTOUPIT |
Talos™ F200i transmisní elektronový mikroskopKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Thermo Scientific™ Talos F200i TEM je 20-200 kV transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskopKontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-646Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-6460 s wolframovým zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
Naprašovačka Quorum 150TKontakt: Ing. Peter Smatana
Systém Q150T je univerzální turbo naprašovačka pro přípravu vzorků pro pozorování v rastrovacím elektronovém mikroskopu.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIBKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIBKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
SPM LiteScope (NenoVision)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
TenuPol 5Kontakt: Ing. Peter Smatana
TenuPol-5 je zařízení určené pro automatizované elektrolytické leštění a leptání metalografických vzorků pro pozorování v transmisním elektronovém mikroskopu.
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy GatanKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy GatanKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOLKontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.
