Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam laboratoří > Detail laboratoře

Elektronová mikroskopie


Virtuální prohlídka laboratoře

VSTOUPIT

Transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F

Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Vysokorozlišovací transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F s FEG zdrojem elektronů.

Transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM

Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Analytický transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM s termoemisním zdrojem elektronů.

MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)

Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).

Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM

Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop s FEG.

Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB

Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.

SPM LiteScope (NenoVision)

Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.

Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy Gatan

Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu

Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy Gatan

Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.

Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOL

Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.