Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam laboratoří > Detail laboratoře
Talos™ F200i transmisní elektronový mikroskop
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Thermo Scientific™ Talos F200i TEM je 20-200 kV transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskop
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Apreo ChemiSEM s FEG zdrojem elektronů
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Systém Thermo Scientific ChemiSEM je vybaven detektory integrovanými do čoček a sloupce mikroskopu (in-lens and in-column detectors), hybridním pixelovým detektorem elektronů pro systém EBSD založeným na technologii Timepix počítající jednotlivé fotony a pokročilým detektorem EDS s technologií ChemiPhase, která umožňuje přesnou identifikaci fází v materiálu s přesností na pixel.
Rastrovací elektronový mikroskop Scios 2 DualBeam s FEG zdrojem elektronů a FIB
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Thermo ScientificTM Scios 2 DualBeam je analytický rastrovací elektronový mikroskop s ultra vysokým rozlišením a fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM).
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIB
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-646
Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-6460 s wolframovým zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
SPM LiteScope (NenoVision)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
Elektronová mikroskopie
Virtuální prohlídka laboratořeVSTOUPIT |
Talos™ F200i transmisní elektronový mikroskopKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Thermo Scientific™ Talos F200i TEM je 20-200 kV transmisní elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskopKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Apreo ChemiSEM s FEG zdrojem elektronůKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Systém Thermo Scientific ChemiSEM je vybaven detektory integrovanými do čoček a sloupce mikroskopu (in-lens and in-column detectors), hybridním pixelovým detektorem elektronů pro systém EBSD založeným na technologii Timepix počítající jednotlivé fotony a pokročilým detektorem EDS s technologií ChemiPhase, která umožňuje přesnou identifikaci fází v materiálu s přesností na pixel.
Rastrovací elektronový mikroskop Scios 2 DualBeam s FEG zdrojem elektronů a FIBKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Thermo ScientificTM Scios 2 DualBeam je analytický rastrovací elektronový mikroskop s ultra vysokým rozlišením a fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM).
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIBKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIBKontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM s FEG zdrojem elektronů.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-646Kontakt: doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-6460 s wolframovým zdrojem elektronů.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
SPM LiteScope (NenoVision)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
