Rastrovací elektronový mikroskop Scios 2 DualBeam s FEG zdrojem elektronů a FIB
| Kontaktní osoba | doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D. |
Thermo ScientificTM Scios 2 DualBeam je analytický rastrovací elektronový mikroskop s ultra vysokým rozlišením a fokusovaným iontovým svazkem (FIB-SEM).
Řádkovací elektronový mikroskop Thermo ScientificTM Scios 2 DualBeam je vybaven in-beam detektory a komorovými detektory. Systém je vybaven FIB, který mimo jiné umožňuje v kombinaci s GIS (GIS umožňujícím depozici C a W) a nanomanipulátorem odprašování materiálu, 3D FIB-SEM tomografii a téměř automatickou přípravu TEM lamel. Segmentovaný komorový detektor BSE je vhodný pro maximální materiálový kontrast, detektor EDS a software AZtec zajišťuje chemickou analýzu a detektor STEM umožňuje zobrazování vnitřních struktur TEM vzorků nebo nanostruktur. Techniky: SE, BSE, in-beam SE, in-beam BSE, EDS, STEM-BF, STEM-DF, STEM-HAADF, FIB
