Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Vybavení

---

Nazev	Kontakt	Skupina
Naprašovačka Quorum 150T	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Optický emisní spektrometr GD-PROFILER 2 (HORIBA Jobin Yvon)	Ing. Eva Švábenská, Ph.D.	Skupina elektrických a magnetických vlastností
Pec Balzers VSG 02		Skupina struktury fází a termodynamiky
Pec MAM-1	Ing. Lubomír Král, Ph.D.	Skupina struktury fází a termodynamiky
Peci pro tepelné zpracování materiálů	Ing. Oldřich Schneeweiss, DrSc.	Skupina elektrických a magnetických vlastností
Pila VC-50 LECO	Mgr. Ondřej Zobač, Ph.D.	Skupina struktury fází a termodynamiky
Planetární mikro mlýn PULVERISETTE 7 premium line		Skupina elektrických a magnetických vlastností
Planetový kulový mlýn Fritsch Pulverisette 6	Ing. Hynek Hadraba, Ph.D.	Skupina křehkého lomu
Planetový mlýn Fritsch Pulverisette 4	Ing. Hynek Hadraba, Ph.D.	Skupina křehkého lomu
Potenciostat Biologic SP-150		Skupina perspektivních vysokoteplotních materiálů
Průrazová zkoušečka GW Instek GPT-9802		Skupina perspektivních vysokoteplotních materiálů
Přenosná kalibrační pec ISOTECH Pegasus	Ing. Jaromír Bernovský	Skupina perspektivních vysokoteplotních materiálů
Přesná lineární pila Buehler ISOMET 5000	Ing. Zdeněk Chlup, Ph.D.	Skupina křehkého lomu
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy Gatan	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy Gatan	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOL	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Rastrovací elektronový mikroskop Apreo ChemiSEM s FEG zdrojem elektronů	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Rastrovací elektronový mikroskop Scios 2 DualBeam s FEG zdrojem elektronů a FIB	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEMxFIB	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB	doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D.	Elektronová mikroskopie a pokročilé analýzy materiálů

« První ‹ Previous 1 2 3 4 5 6 7 Next › Poslední »