Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam vybavení > Detail vybavení

JEOL JSM-6460 scanning electron microscope

Rastrovací elektronový mikroskop JEOL JSM-6460 s wolframovým zdrojem elektronů.

Mikroskop je vybaven detektory EDS X-MAX80, EBSD Nordlys, VDS a softwary AZtec a Inca. Techniky: SE, BSE, EDS, VDS, EBSD