Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam vybavení > Detail vybavení
Inverzní metalografický mikroskop Olympus GX51
Kontaktní osoba | doc. Ing. Stanislava Fintová, Ph.D. |
![](https://www.ipm.cz/wp-content/uploads/2018/11/OlympusGX51-1.jpg)
Inverzní metalografický mikroskop Olympus GX51 poskytuje vysokou stabilitu a vynikající kvalitu obrazu s vysokým rozlišením a komfortem pro obsluhu.
Mikroskop disponuje metodami pozorování v odraženém světle ve světlém poli, v odraženém světle v tmavém poli, v odraženém světle v interferenčním diferenciálním kontrastu a v odraženém polarizovaném světle. Mikroskop je vybaven digitální kamerou pro snímání a OLYMPUS Image Analysis Software pro počítačovou analýzu obrazu a základní měření strukturních charakteristik pozorovaných vzorků.