Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Výzkum > Elektronová mikroskopie

Elektronová mikroskopie

VedoucíIng. Ivo Kuběna, Ph.D.
E-mail [javascript protected email address]
Telefon+420 532 290 417
Místnost316
Nadřazená jednotkaOddělení experimentálních studií a modelování struktury

Skupina se stará o chod elektronových mikroskpů, rozvoj mikroskopických technik a jejich úspěšné aplikace pro řešení výzkumných cílů pracovníků ÚFM.

Techničtí pracovníci


JménoTelefonMístnostE-mail
Ing. Dagmar Herzánová +420 532 290 482408 [javascript protected email address]
Ing. Ivana Podstranská +420 532 290 481407 [javascript protected email address]
Ing. Peter Smatana +420 532 290 432323 [javascript protected email address]

Diplomanti


JménoTelefonMístnostE-mail
Bc. Lucius Fridrich +420 532 290


ČísloNázevŘešitel
13-28685P Identifikace mechanismů únavového poškození u moderních ocelí vyvíjených pro fúzní a jaderné reaktoryIng. Ivo Kuběna, Ph.D.

VŠECHNY PROJEKTY

Transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F

Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Vysokorozlišovací transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F s FEG zdrojem elektronů.

Transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM

Kontakt: Ing. Ivo Kuběna, Ph.D.
Analytický transmisní elektronový mikroskop Philips CM12 STEM s termoemisním zdrojem elektronů.

MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)

Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).

Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMH FEG/SEM

Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop s FEG.

Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB

Kontakt: Ing. Ivana Podstranská
Rastrovací elektronový mikroskop Tescan LYRA 3 XMU FEG/SEMxFIB s FEG zdrojem elektronů.

SPM LiteScope (NenoVision)

Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.

Přístroj pro přesné iontové leštění, model 691 (PIPS) od firmy Gatan

Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu

Přístroj pro přesné iontové leštění, model 695 (PIPS II) od firmy Gatan

Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Přístroj pro přípravu vysoce kvalitních vzorků pro TEM pomocí svazků iontů argonu.

Přístroj pro přípravu příčných řezů svazkem iontů - Cross Section Polisher SM-09010, JEOL

Kontakt: Ing. Dagmar Herzánová
Příprava příčných řezů z různých materiálů pro SEM pomocí svazku iontů argonu.


Nic nebylo nalezeno / nothing found
SELECT p.* FROM papers as p, xauthors as x, xgroups as xg WHERE xg.id_author=x.id_author AND p.id=x.id_paper and xg.id_group=10 GROUP BY id, title ORDER BY p.year DESC limit 0,100