Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Výzkum > Víceúrovňové modelování a měření fyzikálních vlastností
3D tiskárna Prusa i3 MKS3+ & MMU2S (Prusa Research)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
3D tiskárna Prusa i3 MK3S+ je nástupcem úspěšného modelu MK2. Mezi hlavní přednosti MK3S+ patří přebudovaný extruder, celá řada senzorů a chytrých vlastností.
Spektrofotometr Jenway 7415
Kontakt: Mgr. Martin Sojka, Ph.D.
Spektrofotometr Jenway 7415 umožňuje měření spekter v ultrafialové a viditelné oblasti a koncentrace roztoků.
Váhy analytické Quintix® Sartorius 224-1S
Kontakt: Mgr. Martin Sojka, Ph.D.
Přesné váhy s váživostí 220 g a rozlišením na 0,1 mg s interní, plně automatickou, teplotně a časově kontrolovanou "isoCAL" kalibrací, nebo manuální externí kalibrací.
Zetasizer Ultra Malvern
Kontakt: Mgr. Martin Sojka, Ph.D.
Zetasizer Ultra je zařízení pro měření velikosti částic v rozmezí 0,3 nm až 10 µm, náboje a koncentrace částic.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
SPM LiteScope (NenoVision)
Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
všechny publikace
Víceúrovňové modelování a měření fyzikálních vlastností
| Vedoucí | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| [javascript protected email address] | |
| Telefon | +420 532 290 448 |
| Místnost | 307 |
| Nadřazená jednotka | Oddělení experimentálních studií a modelování struktury |
Hlavním záměrem našich výzkumných aktivit je objasnit, jak funkční vlastnosti materiálů závisí na jejich atomární struktuře, typech defektů krystalové mříže a jejich prostorovém uspořádání, dimenzionalitě nanostruktur a vlastnostech povrchů. V současnosti studujeme zejm. heteroepitaxní polovodičové filmy založené na III-nitridech (2D struktury tl. 10-1000 nm), magnetické nanočástice (Fe3O4, nanokrychle 10-50 nm), agregáty magnetických nanočástic s nízkou fraktální dimenzí (D<2) a makroskopické nízkoteplotní chování přechodových kovů. Tento výzkum je realizován pomocí širokého spektra teoretických modelů (DFT, atomární modely založené na empirických a semiempirických potenciálech, Monte Carlo, Landau-Ginzburg, celulární automaty, Řídící rovnice), které kombinujeme s experimentálními studiemi pomocí elektronové mikroskopie (TEM, STEM, SEM, EBIC, EBSD), skenovací sondové mikroskopie (AFM, MFM, CPEM). Vyvíjíme několik teoretických modelů pro interpretaci EBIC proudu, magnetických difrakčních spekter, vlastností magnetických nanočástic a kritéria plasticity pro predikci vzniku plastické deformace v bcc a hcp kovech.
Směry výzkumu
- objasnění původu vláknových dislokací v polovodičových heterostrukturách na bázi III-nitridů
- formulace iontově-kovalentních semi-empirických potenciálů pro studium rozsáhlých defektů v III-nitridech
- syntéza, charakterizace a funkcionalizace nanočástic pro využití v biologii
- vývoj měřících zařízení pro charakterizaci specifické rychlosti absorpce magnetických nanočástic ve střídavých magnetických polích
- charakterizace funkčních vlastností materiálů pomocí TEM (STEM), SEM (EBSD, EBIC), SPM (AFM, MFM, nanoEBIC, CPEM)
- teoretické modely pro interpretace EBIC kontrastu a spekter získaných z magnetické neutronové difrakce
- experimentální a teoretická studia plastické deformace bcc kovů (V, Nb, Ta, Mo, W) vč. vlivů magnetismu (Cr, Fe) a hcp kovů (Mg)
- objasnění mechanismů plastické deformace vysokoentropických slitin CoCrFeMnNi a precipitačně zpevněných ocelí na bázi FeNiCr
- formulace mezoskopických modelů samoorganizace a vytváření korelovaných mikrostrukturních domén
Spolupráce
- University of Cambridge (Velká Británie)
- ON Semiconductor (ČR, Belgie)
- CzechNanoLab/CEITEC (ČR)
- Istituto Italiano di Tecnologia (Itálie)
- Paul Scherrer Institut (Švýcarsko)
- University of Pennsylvania (USA)
- ICAMS and Ruhr-Universität Bochum (Německo)
- Materials Growth & Measurement Laboratory (ČR)
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Ing. Jana Burdíková, Ph.D. | +420 532 290 | [javascript protected email address] |
Vědečtí pracovníci
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Mgr. Jan Fikar, Ph.D. | +420 532 290 455 | 419 | [javascript protected email address] |
| Mgr. Andrej Ostapovec, Ph.D. | +420 532 290 429 | 421 | [javascript protected email address] |
| Mgr. Martin Sojka, Ph.D. | +420 532 290 481 | 407 | [javascript protected email address] |
Doktorandi
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Ing. Zuzana Šiška | +420 532 290 451 | 308 | [javascript protected email address] |
| MSc. Nhu Quynh Thi Tran | +420 532 290 451 | 308 | [javascript protected email address] |
| M.Tech. Ankit Yadav | +420 532 290 451 | 308 | [javascript protected email address] |
Visiting Scientists
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| doc. Mgr. Ondrej Hovorka, Ph.D. | +420 532 290 448 | 307 | [javascript protected email address] |
| Mgr. Matouš Mrovec, Ph.D. | +420 532 290 448 | 307 | [javascript protected email address] |
Diplomanti
| Jméno | Telefon | Místnost | |
|---|---|---|---|
| Oleksandr Anikanov | +420 532 290 461 | 427 | [javascript protected email address] |
| Bc. Miroslav Polách | +420 532 290 451 | 308 | [javascript protected email address] |
| Julie Višinková | +420 532 290 702 | 214 | [javascript protected email address] |
| Číslo | Název | Řešitel |
|---|---|---|
| CZ.02.01.01/00/22_008/0004596 | Senzory a detektory pro informační společnost budoucnosti (SenDISo) | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| 24-12526S | Využití povrchových jevů k eliminaci rozsáhlých defektů v polovodičových nanostrukturách | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| Číslo | Název | Řešitel |
|---|---|---|
| CZ.01.1.02/0.0/0.0/20_358/0023778 | Korelativní měření magnetických vlastností povrchů | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| 8J19UA037 | Neschmidovské chování dislokací v hořčíku a jeho slitinách | Mgr. Andrej Ostapovec, Ph.D. |
| 19-23411S | Souhra plasticity a magnetismu v alfa-železe a chromu | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| 763685 | BACK FOR THE FUTURE (CZ) | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| LQ1601 | CEITEC 2020 | prof. Ing. Luboš Náhlík, Ph.D. |
| CZ.1.05/1.1.00/02.0068 | CEITEC – Středoevropský technologický institut | prof. Ing. Luboš Náhlík, Ph.D. |
| P204/10/0255 | Výpočet Peierlsovy bariéry v bcc kovech a její závislosti na napětí | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
| Marie-Curie International Reintegration Grant (IRG), No. 247705 “MesoPhysDef” | Mezoskopický rámec pro modelování fyzikálních procesů ve vícefázových materiálech s defekty | doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D. |
3D tiskárna Prusa i3 MKS3+ & MMU2S (Prusa Research)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
3D tiskárna Prusa i3 MK3S+ je nástupcem úspěšného modelu MK2. Mezi hlavní přednosti MK3S+ patří přebudovaný extruder, celá řada senzorů a chytrých vlastností.
Spektrofotometr Jenway 7415Kontakt: Mgr. Martin Sojka, Ph.D.
Spektrofotometr Jenway 7415 umožňuje měření spekter v ultrafialové a viditelné oblasti a koncentrace roztoků.
Váhy analytické Quintix® Sartorius 224-1SKontakt: Mgr. Martin Sojka, Ph.D.
Přesné váhy s váživostí 220 g a rozlišením na 0,1 mg s interní, plně automatickou, teplotně a časově kontrolovanou "isoCAL" kalibrací, nebo manuální externí kalibrací.
Zetasizer Ultra MalvernKontakt: Mgr. Martin Sojka, Ph.D.
Zetasizer Ultra je zařízení pro měření velikosti částic v rozmezí 0,3 nm až 10 µm, náboje a koncentrace částic.
MightyEBIC 2.0 (Ephemeron Labs)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Kontroler skenování a rozhraní pro sběr dat k provádění kvantitativních měření proudu indukovaného elektronovým svazkem (EBIC).
SPM LiteScope (NenoVision)Kontakt: doc. Ing. Roman Gröger, Ph.D.
Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.
všechny publikace
