Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam vybavení > Detail vybavení
JEOL JEM-2100F transmisní elektronový mikroskop
Kontaktní osoba | Ing. Ivo Kuběna, Ph.D. |
JEOL JEM-2100F TEM je víceúčelový analytický elektronový mikroskop s FEG zdrojem elektronů.
FEG produkující vysoce stabilní a jasný svazek elektronů je zásadní pro vysoké rozlišení v rastrovací transmisní mikroskopii a při analýze nano-vzorků. Mikroskop je vybaven EDS detektorem pro rentgenovou mikroanalýzu s analytickým systémem Aztec, HAADF a BF detektory pro STEM mód, 8Mpix kamerou Gatan a softwarem Digital Micrograph. Pro analýzu vzorků lze použít držáky s jednoduchým a dvojitým náklonem. Techniky: TEM, HRTEM, SAED, CBD, NBD, STEM, EDS