Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam vybavení > Detail vybavení

Transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F

Vysokorozlišovací transmisní elektronový mikroskop JEOL JEM-2100F s FEG zdrojem elektronů.

Přístroj má bodové rozlišení 0.23 nm, je vybavený EDS detektorem pro rentgenovou mikroanalýzu X-Max80 fy Oxford Instruments s analytickým systémem Aztec, detektory HAADF a BF pro STEM režim, 8Mpix kamerou fy Gatan a softwarem Digital Micrograph.