Ústav fyziky materiálů AV ČR, v. v. i. > Seznam vybavení > Detail vybavení

---

SPM LiteScope (NenoVision)

Rastrovací sondový mikroskop navržený pro snadnou integraci do skenovacích elektronových mikroskopů. Kombinace doplňkových technik AFM a SEM umožňuje využívat výhody obou běžně používaných technik mikroskopie. LiteScope obsahuje jedinečnou zobrazovací techniku "Correlative Probe and Electron Microscopy (CPEM)" umožňující simultánní sběr dat z AFM a SEM. LiteScope a technologie CPEM umožňují analýzu vzorků způsobem, který byl dříve obtížný nebo nemožný dvěma zobrazovacími technologiemi současně.

Naše zařízení je v současnosti vybaveno pro následující SPM techniky:

• měření povrchové topografie pomocí AFM, vč. automatického mapování velkých ploch
• skenovací tunelovací mikroskopie (STM)
• charakterizace elektrické vodivosti povrchů pomocí měření EBIC proudu (viz. také MightyEBIC 2.0)
• charakterizace magnetických vlastností povrchů pomocí MFM