Seminář s názvem Damage of sensitive specimens by electron and ion beams Dr. Onřej L. Sháněl z ThermoFisher Scientific, Brno dne 9. dubna 2026 v 10:00 v posluchárně ÚFM. Seminář bude probíhat v anglickém jazyce.
Tato prezentace se zabývá tím, jak elastický a neelastický rozptyl elektronů v tenkých vzorcích pro (S)TEM řídí tři vzájemně provázané procesy – ohřev paprskem, elektrostatické nabíjení, posun způsobený nárazem a radiolýzu (prostřednictvím tvorby elektron-díry a sekundárních elektronů) – a jak jejich prostorová a časová dynamika ovlivňuje rozlišení omezené dávkou. Klíčovým poselstvím pro omezení poškození je, že citlivost závisí na způsobu dodání dávky, nikoli pouze na celkové dávce a typu vzorku.
Jsou diskutovány principy různých mechanismů poškození vzorků a typů vzorků (vodiče, izolátory, organické a anorganické látky), a to jak teoretické, tak podložené experimentálními výsledky, spolu s doporučenými strategiemi snímání pro minimalizaci poškození vzorku a maximalizaci poměru signálu k šumu.
Druhá část prezentace zkoumá, jak se interakce iontů se vzorkem během přípravy lamely liší od interakcí s elektrony. Teoretické závěry jsou podloženy praktickými výsledky a jsou představeny doporučené strategie frézování k potlačení nežádoucích efektů.
